一、引言

在半導體制造領域，鍵合晶圓技術廣泛應用于三維集成、傳感器制造等領域。然而，鍵合過程中諸多因素會導致晶圓總厚度偏差（TTV）增大，影響器件性能與良品率。因此，探索提高鍵合晶圓 TTV 質量的方法，對推動半導體產業(yè)發(fā)展具有重要意義。

二、提高鍵合晶圓 TTV 質量的方法

2.1 鍵合前晶圓處理

鍵合前對晶圓的處理是提高 TTV 質量的基礎。首先，嚴格把控晶圓表面平整度，采用化學機械拋光（CMP）技術，精確去除晶圓表面的微小凸起與凹陷，使晶圓表面粗糙度達到極低水平，減少因表面不平整導致的鍵合后 TTV 增加 。其次，對晶圓進行清潔處理，利用濕法清洗工藝去除晶圓表面的有機物、金屬離子等雜質，避免雜質在鍵合過程中影響鍵合界面，造成局部應力集中，進而影響 TTV 質量。同時，可對晶圓進行預鍵合處理，通過低溫等離子體活化等方式，改善晶圓表面活性，為高質量鍵合奠定基礎 。

2.2 鍵合工藝優(yōu)化

鍵合工藝參數對 TTV 質量影響顯著。優(yōu)化鍵合溫度，根據晶圓材質和鍵合材料特性，確定合適的溫度范圍。溫度過高可能導致晶圓變形，增大 TTV；溫度過低則鍵合強度不足 。合理控制鍵合壓力，均勻且適度的壓力有助于保證鍵合界面的一致性，防止因壓力不均造成晶圓局部變形。此外，優(yōu)化鍵合時間，避免時間過長或過短，確保鍵合過程充分且穩(wěn)定，減少因鍵合不充分或過度鍵合帶來的 TTV 問題 。

2.3 鍵合后檢測與調整

建立高效的鍵合后檢測機制是保證 TTV 質量的關鍵。利用高精度光學測量設備，如激光干涉儀，對鍵合晶圓的 TTV 進行快速、準確檢測 。一旦檢測到 TTV 超出允許范圍，可通過局部應力釋放、二次鍵合調整等方式進行修正。例如，對于因局部應力導致 TTV 超標的區(qū)域，采用熱處理等方法釋放應力，改善 TTV 質量 。

高通量晶圓測厚系統

高通量晶圓測厚系統以光學相干層析成像原理，可解決晶圓/晶片厚度TTV（Total Thickness Variation，總厚度偏差）、BOW（彎曲度）、WARP（翹曲度），TIR（Total Indicated Reading 總指示讀數，STIR（Site Total Indicated Reading 局部總指示讀數），LTV（Local Thickness Variation 局部厚度偏差）等這類技術指標。