我們相信優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品是信譽(yù)的保證！
致力于成為優(yōu)秀的解決方案供應(yīng)商！
遷移率測(cè)試儀：準(zhǔn)確的遷移速率數(shù)據(jù)
2024-12-03 2024-11-29 2024-10-17 2024-10-17 霍爾遷移率測(cè)試儀在半導(dǎo)體材料的研究中的應(yīng)用
2024-11-04 產(chǎn)品中心/ products
晶圓電阻率測(cè)試儀，硅片電阻率測(cè)試儀，渦流法電阻率分析儀，晶錠電阻率分析儀，遷移率（霍爾）測(cè)試儀，少子壽命測(cè)試儀，為晶圓、碳化硅、硅片、封裝測(cè)試等生產(chǎn)和品質(zhì)監(jiān)控，提供一整套完整測(cè)試和解決方案。
產(chǎn)品型號(hào)：廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家更新時(shí)間：2025-06-26訪(fǎng) 問(wèn) 量：883
立即咨詢(xún)
聯(lián)系電話(huà)：
專(zhuān)注于非接觸式半導(dǎo)體計(jì)量分析技術(shù)的開(kāi)發(fā)和生產(chǎn) ，攻克被國(guó)外卡脖子技術(shù)。
產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、光伏、科研以及平板材料測(cè)試領(lǐng)域。借助公司*計(jì)量分析測(cè)試技術(shù)，為晶圓、碳化硅、硅片、封裝測(cè)試等生產(chǎn)和品質(zhì)監(jiān)控，提供一整套完整測(cè)試和解決方案。
晶圓電阻率測(cè)試儀，硅片電阻率測(cè)試儀，渦流法低電阻率分析儀，晶錠電阻率分析儀，遷移率（霍爾）測(cè)試儀，少子壽命測(cè)試儀，
一、
晶圓電阻率測(cè)試儀
硅片方阻測(cè)試儀
渦流法低電阻率分析儀
晶錠電阻率分析儀
樣品尺寸：2"-8"或者16mm×16mm的方形樣品；
遷移率測(cè)量范圍：100-20000（cm2/v.sec)；
方塊電阻測(cè)量范圍：100-3000（ohm/sq)；
載流子面密度測(cè)量范圍：1E11-1E14（cm-2）；
電磁鐵磁場(chǎng)強(qiáng)度：1.0T
探頭線(xiàn)圈直徑：15mm
返回列表
與我們產(chǎn)生合作，還原您產(chǎn)品藍(lán)圖里應(yīng)有的樣子!
立即聯(lián)系我們
產(chǎn)品中心
晶錠方阻測(cè)試儀新聞中心
新聞資訊技術(shù)文章關(guān)于我們
公司簡(jiǎn)介聯(lián)系方式
在線(xiàn)留言聯(lián)系我們Copyright ©2025 九域半導(dǎo)體科技（蘇州）有限公司 All Rights Reserved 備案號(hào)：蘇ICP備2023057191號(hào)-2
技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) 管理登陸 sitemap.xml
您的位置：
